การประชุมวิชาการและผลงานวิจัย มหาวิทยาลัยทักษิณ ครั้งที่ 17 2550 - page 494

4
รูปที่ 2 แสดงโครงสรางจุลภาคของ (Zn1-xMgx)TiO3 ที่ x= 0.0 - 0.3
300 400 500 600 700 800 900
20
30
40
50
60
70
Dielectric Constant
Temperature (K)
f = 600 kHz
f = 800 kHz
f = 1 MHz
300 400 500 600 700 800 900
0
20
40
60
80
Dielectric Loss
Temperature (K)
f = 600 kHz
f = 800 kHz
f = 1 MHz
(ก) (ข)
รูปที่ 3 (ก) แสดงคาคงที่ไดอิเล็กตริกที่ x = 0.2 (ข) แสดงคาการสูญเสียไดอิเล็กตริกที่ x = 0.3
การศึกษาสมบั ติไดอิเล็กตริกของเซรามิก (Zn1-xMgx)TiO3 เมื่อ x= 0.2 เปน 68.5 ที่ความถี่ 1 MHz สํ าหรับ
x = 0.0, 0.1, และ 0.3 มีคาคงที่ไดอิเล็กตริกมากสุ ดเปน 55.3 ที่ความถี่ 1 MHz 49.3 ที่ความถี่ 800 kHz และ 48.7 ที่
ความถี่ 800 kHz ซึ่ง Wang et al.(2005)ไดศึกษาไวมีคาคงที่ไดอิเล็กตริก 17.3 สํ าหรับคาการสูญเสียไดอิเล็กตริก
พบวามีคาแนวโนมเพิ่มขึ้นเมื่ออุณหภูมิเพิ่มขึ้น
x =0.2 x = 0.3
x = 0.1 x =0.0