เอกสารการประชุมวิชาการและเสนอผลงานวิจัย มหาวิทยาลัยทักษิณ ครั้งที่ 19 2552 - page 114

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(X-ray Diffractometer; XRD) °Š Rigaku ¦»nœ Rint 2000 čo Cu-KD (O = 1.54056 Å) ˜¦ª‹ª´— 2T-scan —o ª¥
¤»¤˜„„¦³šÁŒ¸¥Š (glazing incident angle) ‡Šš¸ÉÁšnµ„´ 3O ¨³„¦µ——oª¥¤»¤ 2T ‹µ„ 20 O - 65O —oª¥°´˜¦µ 2O ˜n°œµš¸
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˜¦ª‹ª´ ——oª¥Á‡¦ºÉ°Š°³˜°¤¤·‡¢°¦rŽÅ¤Ã‡¦ Ǟ (Atomic Force Microscope; AFM) °Š Veeco Instrument Inc.
¦»nœ Nano Scope IV »—šo µ¥Áž}œ„µ¦š—¨°ŠÁ‡¨º °„¦³‹„ÁŠµÃ‡¦Á¤¸¥¤Â¨oªœÎµÅžš—°„µ¦³šo°œÂŠ „µ¦¥¹—˜· —
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